Skip to main content alibris logo

Analyse du vide induit par la contrainte et de l'?lectromigration des liaisons Cu-Cu

by

Write The First Customer Review
Analyse du vide induit par la contrainte et de l'?lectromigration des liaisons Cu-Cu - Singh, Harjinder
Filter Results
Item Condition
Seller Rating
Other Options
Change Currency

L'empilage face ??? face sur Wafer to Wafer (WoW) peut ???tre r???alis??? pour les interconnexions Cu-Cu ??? liaison directe. Une bonne r???sistance m???canique pour soutenir la force de cisaillement pendant l'amincissement peut ???tre obtenue par la liaison Cu. La fabrication de structures d'interconnexion fiables est un d???fi permanent. Les contraintes r???sultent du d???p???t de mat???riaux, du d???calage de la dilatation thermique et de l'???lectromigration. Le d???p???t de mat???riaux g???n???re in???vitablement des ...

loading
Analyse du vide induit par la contrainte et de l'électromigration des liaisons Cu-Cu 2023, Editions Notre Savoir

ISBN-13: 9786205599891

French

Trade paperback