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Spannungsinduzierte Lunkerbildung und Elektromigrationsanalyse von Cu-Cu-Bindungen

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Spannungsinduzierte Lunkerbildung und Elektromigrationsanalyse von Cu-Cu-Bindungen - Singh, Harjinder
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Face to Face Stacking auf Wafer to Wafer (WoW) kann f???r die Cu-Cu-Direktbonding-Verbindungen durchgef???hrt werden. Durch Cu-Bonden kann eine gute mechanische Festigkeit erreicht werden, um die Scherkr???fte w???hrend des Ausd???nnens aufrechtzuerhalten. Die Herstellung zuverl???ssiger Verbindungsstrukturen ist jedoch eine st???ndige Herausforderung. Spannungen resultieren aus der Ablagerung von Materialien, der Ungleichheit der thermischen Ausdehnung und der Elektromigration. Die Ablagerung von Materialien f???hrt ...

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Spannungsinduzierte Lunkerbildung und Elektromigrationsanalyse von Cu-Cu-Bindungen 2023, Verlag Unser Wissen

ISBN-13: 9786205599884

German

Trade paperback