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Anßlise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigra??o das liga??es Cu-Cu

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Anßlise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigra??o das liga??es Cu-Cu - Singh, Harjinder
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O empilhamento face a face em Wafer to Wafer (WoW) pode ser feito para as interliga??????es de liga??????o directa Cu-Cu. Uma boa resist???ncia mec???nica para sustentar a for???a de corte durante o desbaste pode ser conseguida atrav???s da colagem de Cu. Ao mesmo tempo que fazer estruturas de interliga??????o fi???veis tem sido um desafio persistente. A tens???o resulta da deposi??????o de material, da desadequa??????o da expans???o t???rmica e da electromigra??????o. A deposi??????o de material gera inevitavelmente tens?? ...

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Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu 2023, Edicoes Nosso Conhecimento

ISBN-13: 9786205599921

Portuguese

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