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Analisi del Voiding indotto da stress e dell'elettromigrazione dei legami Cu-Cu

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Analisi del Voiding indotto da stress e dell'elettromigrazione dei legami Cu-Cu - Singh, Harjinder
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L'impilamento faccia a faccia su Wafer to Wafer (WoW) pu??? essere effettuato per le interconnessioni a incollaggio diretto Cu-Cu. Una buona resistenza meccanica per sostenere la forza di taglio durante l'assottigliamento pu??? essere ottenuta con l'incollaggio Cu. La realizzazione di strutture di interconnessione affidabili ??? una sfida persistente. Le sollecitazioni derivano dalla deposizione del materiale, dalla mancata corrispondenza dell'espansione termica e dall'elettromigrazione. Il deposito di materiale genera ...

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Analisi del Voiding indotto da stress e dell'elettromigrazione dei legami Cu-Cu 2023, Edizioni Sapienza

ISBN-13: 9786205599914

Italian

Trade paperback